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BPatG Beschluss vom 15.04.2026 – 20 W (pat) 20/25

20. Senat · ECLI:DE:BPatG:2026:150426B20Wpat20.25.0

Gewerblicher Rechtsschutz BundVolltext

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BUNDESPATENTGERICHT

20 W (pat) 20/25

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(Aktenzeichen)

B E S C H L U S S

In der Beschwerdesache

betreffend die Patentanmeldung 10 2018 210 802.1 …

hat der 20. Senat (Technischer Beschwerdesenat) auf die mündliche Verhandlung vom 15.04.2026 durch den Vizepräsidenten Dipl.-Ing. Musiol als Vorsitzenden, die Richterin Dorn sowie die Richter Dipl.-Geophys. Dr. Wollny und Dr.-Ing. Ball

beschlossen:

ECLI:DE:BPatG:2026:150426B20Wpat20.25.0 Der Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G01N des Deutschen Patent- und Markenamts vom 25.02.2025 wird aufgehoben und das Patent 10 2018 210 802 wie folgt erteilt:

Anmeldetag:

29.06.2018 Bezeichnung:

Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes und Computertomograph Patentansprüche:

Patentansprüche 1 bis 9 vom 18.07.2025, beim BPatG als Hauptantrag eingegangen am selben Tag Beschreibung:

Beschreibungsseiten 1 bis 17 vom 18.07.2025, beim BPatG zum Hauptantrag eingegangen am selben Tag Zeichnungen:

Figuren 1, 2, 3a und 3b vom Anmeldetag (29.06.2018).

G r ü n d e

I. Die am 29.06.2018 eingereichte Patentanmeldung 10 2018 210 802.1 mit der Bezeichnung „Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes und Computertomograph“ ist von der Prüfungsstelle für Klasse G01N des Deutschen Patent- und Markenamts (DPMA) mit am Ende der Anhörung vom 25.02.2025 verkündetem Beschluss zurückgewiesen worden.

Zur Begründung ist ausgeführt, dass der Gegenstand des jeweiligen Patentanspruchs 1 sowohl gemäß dem damals geltenden Hauptantrag als auch gemäß den Hilfsanträgen 1 bis 4 gegenüber dem von der Prüfungsstelle ermittelten Stand der Technik, insbesondere der Lehre der Druckschrift KETCHAM & HANNA (2014) (D1), nicht neu sei.

Im Rahmen der Anmeldung und des Prüfungsverfahrens wurden insgesamt fünf Druckschriften genannt:

D1 KETCHAM, R. A.; HANNA, R. D.: Beam hardening correction for X-ray computed tomography of heterogeneous natural materials. In: Computers & Geosciences (2014). 49 – 61. D2 ABDURAHMAN, S. [et al.]: Calibration free Beam Hardening Correction using Grangeat based Consistency Measure. In: Proceedings of the IEEE Nuclear Science Symposium Medical Imaging Conference and Room- Temperature Semiconductor Detector Workshop, Strasbourg, 2016. 3 S. D3 KINGSTON; A. M. [et al.]: X-ray beam hardening correction by minimizing reprojection distance. In: Proceedings of SPIE 8506 (2012). S. 85061D-1 – 85061D-10. D4 US 7,203,267 B2 D5 DE 10 2005 018 660 A1 Gegen den o. g. Beschluss richtet sich die am 10.04.2025 eingelegte Beschwerde der Anmelderin.

Der Bevollmächtigte der Anmelderin beantragt zuletzt, den Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G01N des Deutschen Patent- und Markenamts vom 25.02.2025 aufzuheben und das nachgesuchte Patent auf der Grundlage folgender Unterlagen zu erteilen:

Patentansprüche:

Patentansprüche 1 bis 9 vom 18.07.2025, beim BPatG als Hauptantrag eingegangen am selben Tag Beschreibung:

Beschreibungsseiten 1 bis 17 vom 18.07.2025, beim BPatG zum Hauptantrag eingegangen am selben Tag Zeichnungen:

Figuren 1, 2, 3a und 3b vom Anmeldetag (29.06.2018). Der geltende Patentanspruch 1 lautet wie folgt:

Wegen des Wortlauts der auf Patentanspruch 1 direkt oder indirekt rückbezogenen Patentansprüche 2 bis 8 und des nebengeordneten Patentanspruchs 9 sowie weiterer Einzelheiten wird auf den Akteninhalt verwiesen.

II. Die zulässige Beschwerde ist begründet mit der Folge, dass das nachgesuchte Patent – unter gleichzeitiger Aufhebung des angefochtenen Beschlusses – auf der Grundlage der nunmehr geltenden Unterlagen zu erteilen war. Denn der Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1, an dessen Zulässigkeit keine Zweifel bestehen, erweist sich gegenüber dem im Verfahren befindlichen Stand der Technik als neu und auch auf einer erfinderischen Tätigkeit beruhend, so dass seine Patentfähigkeit zu bejahen ist (§ 1 Abs. 1, §§ 3, 4 PatG). Auch alle übrigen Patentierungsvoraussetzungen sind erfüllt.

1. Die Anmeldung betrifft laut Seite 1, Absatz 1 der Ursprungsunterlagen (UU) ein Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes und einen zugehörigen Computertomographen (CT). Insbesondere betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes, das durch Bestrahlen eines Objektes mit polychromatischer invasiver Strahlung und durch Detektieren von geschwächter, durch das Objekt hindurch gestrahlter Strahlung erhalten wird oder wurde, wobei zum Korrigieren Korrekturfunktionen verwendet werden.

In der Computertomographie mit polychromatischen Röntgenquellen trete Strahlaufhärtung auf, da der niederenergetische Teil des Röntgenspektrums beim Durchtritt durch ein Messobjekt eine stärkere Abschwächung erfahre als der höherenergetische Teil. Dies führe zu Nichtlinearitäten in den vom Röntgendetektor erfassten Abschwächungen. Es existierten Verfahren, um diese Nichtlinearitäten zu korrigieren. Hierbei kämen Korrekturfunktionen zum Einsatz, welche für eine Linearisierung von erfassten Abschwächungswerten in den Durchstrahlungsbildern sorgten. Einige würden als Korrekturfunktion eine Polynomfunktion verwenden, mittels der erfasste Abschwächungswerte linearisiert würden (UU, S. 1, Abs. 2 bis 4).

Schreibe man die Rekonstruktion als mathematische Operation v = R-1(a), wobei v das rekonstruierte Volumen, R die Radontransformation und a die Abschwächungen a = - log(I/I0) der vom Röntgendetektor erfassten Intensitäten I im Verhältnis zur Ausgangsintensität der nicht abgeschwächten Röntgenstrahlung I0 beschrieben, so sei ein rekonstruiertes Bild oder ein rekonstruiertes Volumen des Messobjektes bei Verwendung einer Polynomfunktion durch gegeben, in der auch als Korrekturpolynom mit den Koeffizienten ci bezeichnet werde (UU, S. 1, Abs. 5 bis S. 2, Abs. 1).

Neben der Strahlaufhärtung führe im Computertomographen auftretende Streustrahlung zu weiteren Nichtlinearitäten, die durch die Korrekturfunktion ebenfalls korrigiert werden könnten. Sei die Korrekturfunktion ein Korrekturpolynom, so seien die Koeffizienten ci des Korrekturpolynoms im Fall von auftretender Streustrahlung stark abhängig vom Messobjekt und müssten im Allgemeinen für jede Bauteilklasse, die vermessen werden solle, erneut bestimmt werden (UU, S. 2, Abs. 2 und 3).

Ein bekanntes Verfahren zur Linearisierung mittels eines Korrekturpolynoms basiere auf der empirischen Bestimmung der Koeffizienten des Korrekturpolynoms durch Minimierung der resultierenden Abweichungen zwischen dem mittels des Korrekturpolynoms korrigierten rekonstruierten Bild und einer vorgegebenen Zielfunktion für ein bekanntes Messobjekt. Das Verfahren sei hierbei prinzipiell nicht auf Polynomfunktionen beschränkt, sondern lasse sich auch für andere Arten von Funktionen (z. B. „Splinefunktionen“ oder Kombinationen verschiedener Funktionen) durchführen (UU, S. 2, Abs. 4).

Ein Verfahren, das Korrekturpolynome verwende, sei aus der DE 10 2005 018 660 A1 bekannt. Zur Bestimmung der Zielfunktion werde hierbei ein Schwellenwert für die materialabhängige Strahlungsabschwächung festgelegt, der beispielsweise Luft und Material voneinander unterscheidet. Dies seien beispielsweise Werte, die für die durch die Materialien hervorgerufene materialabhängige Strahlabschwächung erwartet würden. Ein wesentlicher Nachteil des Verfahrens sei jedoch, dass die empirisch bestimmten Koeffizienten des Korrekturpolynoms im Allgemeinen vom gewählten Schwellenwert abhingen. Dies könne dazu führen, dass Verfahren zur Oberflächenbestimmung unterschiedliche Positionen lieferten und so systematische Fehler bei der dimensionellen Messtechnik zur Folge hätten, die einen Nutzereinfluss (über die Wahl des Schwellenwerts) zeigten. Aus der US 7 203 267 B2 sei ein Verfahren bekannt, bei dem Computertomographie zur Metrologie verwendet werde. Das Verfahren sei hierbei speziell auf eine Bestimmung von Oberflächen ausgelegt (UU, S. 2, Abs. 5 bis S. 3, Abs. 1). Als Aufgabe der Anmeldung ist in den Ursprungsunterlagen Seite 2, Absatz 3 genannt, ein Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes und einen zugehörigen Computertomographen zu schaffen, bei denen Nichtlinearitäten verbessert korrigiert werden könnten.

2. Der geltende Patentanspruch 1 vom 18.07.2025 lässt sich (mit hervorgehobenen Änderungen gegenüber dem Prüfungsverfahren und ohne Angabe der Bezugszeichen) wie folgt gliedern:

M1.4.1 a) Erzeugen oder Empfangen einer Mehrzahl von Parameterwerten des Ermittlungsparameters oder einer Mehrzahl von Parameterwert- Sätzen der mehreren Ermittlungsparameter M1.4.2 b) für jeden der Mehrzahl von Parameterwerten des Ermittlungsparameters oder jeden der Mehrzahl von Parameterwert- Sätzen der mehreren Ermittlungsparameter: Bestimmen von einer der Korrekturfunktionen, M1.4.3 c) Bestimmen von Unterschieden zwischen mittels der Korrekturfunktionen korrigierten Durchstrahlungsbildern oder korrigierten rekonstruierten Volumina des Messobjektes oder Bestimmen der Unterschiede durch Vergleich der Korrekturfunktionen, M1.4.4 d) Minimieren der Unterschiede durch Variieren einer Art mindestens einer der Korrekturfunktionen und/oder durch Variieren des Ermittlungsverfahrens und durch Wiederholen des Bestimmens der Korrekturfunktionen gemäß Maßnahme b) und des Bestimmens von Unterschieden gemäß Maßnahme c), M1.4.5 e) Ausgeben von Information, die zumindest eine der durch Maßnahme d) erhaltenen Korrekturfunktionen als die zum Korrigieren zu verwendende Korrekturfunktion eindeutig beschreibt.

3. Der gegenüber den Ursprungsunterlagen in Merkmal 1.4.3 ergänzte geltende Patentanspruch 1 ist zulässig, da die vorgenommene Änderung, ursprungsoffenbart ist (vgl. UU, S. 3, Abs. 4).

4. Die Patentanmeldung richtet sich ihrem technischen Sachgehalt nach an einen Physiker mit Universitätsabschluss (Diplom, Master), der über mehrere Jahre Berufserfahrung in der theoretischen Konzeption, baulichen Entwicklung und praktischen Umsetzung von CT-Verfahren aller Art verfügt.

5. Dieser Fachmann versteht den Sachgehalt des Patentanspruchs 1 wie folgt:

Mit Merkmal M1.1 wird der Einsatzbereich des Verfahrens festgelegt und zwar dergestalt, dass dieses zur Korrektur von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes dient, das mittels eines CTs gewonnen wurde (UU, bspw. S. 1, Abs. 1). Als Voraussetzungen für die Bildaufnahme wird angemerkt, dass ein Untersuchungsobjekt dafür mit „polychromatischer invasiver Strahlung“ (also breitbandiger Röntgenstrahlung im Falle des CT) durchstrahlt und ein – durch hier nicht weiter benannte Effekte – geschwächtes Strahlungssignal mittels eines im Merkmal nicht genannten Empfängers detektiert/aufgezeichnet wird oder wurde.

Merkmal M1.2 fordert, dass „zum Korrigieren“ eine von mehreren (möglichen, aber hier nicht dezidiert genannten) Korrekturfunktionen genutzt wird. Die ursprüngliche Beschreibung führt als Beispiele etwa „Korrekturpolynome“ (UU, S. 2, Abs. 3 und 4) und „Splines“ (UU, S. 8, Abs. 3) an.

Gemäß Merkmal M1.3 sind diese Korrekturfunktionen durch einen Parameterwert zumindest eines Korrekturparameters bestimmt. Das heißt, dass die Korrekturfunktionen (zumeist mehrere) einzelne Korrekturparameter beinhalten, deren Werte jeweils die Korrekturfunktion (mit-)bestimmen. Im Rahmen eines Polynoms als Korrekturfunktion („Korrekturpolynom“) wären dann als (Parameter-)Werte gemäß der ursprünglichen Beschreibung die Zahlenwerte der Koeffizienten des dortigen Polynoms anzusehen (vgl. UU, S. 1 bzw. 2, Summenanteil im Formelausdruck).

Gemäß Merkmal M1.4 sind diese eben genannten Parameterwerte (im Beispiel von M1.3 also die Koeffizienten) einzeln auf eine festgelegte Art zu ermitteln, die hier als „Ermittlungsverfahren“ bezeichnet wird, wobei das Ermittlungsverfahren durch den Parameterwert eines so genannten „Ermittlungsparameters“ oder die „Parameterwert-Sätze“ mehrerer (einzelner) Ermittlungsparameter bestimmt ist. Damit ist eine Art zweigeteilte Annäherung an eine Korrekturfunktion verbunden:

Zuerst müssen Parameterwert/-sätze einzelner Ermittlungsparameter geeignet bestimmt/vorgegeben werden, bevor aus diesen einzelne (Korrektur-) Parameterwerte für eine Korrekturfunktion entwickelt werden können. Wie diese zu bestimmen sind, wird in den weiteren fünf Merkmalen der Merkmalsgruppe M1.4 beschrieben, welche die Kernaussagen der Anmeldung darstellen. Zur Veranschaulichung der mit diesen Merkmalen verbundenen Verfahrensschritte sei auf die untenstehende (respektive auf der Seite 12 eingefügte), einen Datenverarbeitungsverlauf darstellende Skizze des Senats verwiesen, die in der mündlichen Verhandlung erörtert wurde und von einem einfachen möglichen Spezialfall ausgeht. Dieser kann entsprechend für komplexere Vorgehensweisen verallgemeinert werden, ohne die Sachaussage des Patentanspruchs 1 bzw. der vorliegenden Anmeldung zu verlassen. Im für die Skizze gewählten Beispiel wird zu Beginn des Verfahrens ein Tripel von Parameterwerten (dort „Parameter 1“ bis „3“) zur Bestimmung jeweils einer dem jeweiligen Parameterwert zugeordneten Korrekturfunktion („Korrekturfunktion 1“ bis „3“) als Ausgangskonstrukt zugrunde gelegt. Dieses wird dann gemäß Anspruchswortlaut fortentwickelt. Im Rahmen der folgenden Auslegung wird zur Erläuterung des jeweiligen Sachgehaltes der sich anschließenden, wesentlich weiter gefassten Merkmale immer wieder auf dieses Beispiel Bezug genommen, um die teils sehr allgemein gehaltenen Merkmalsformulierungen in ihrer Wirkung auf den beanspruchten Verfahrensablauf zu beschreiben und damit festzulegen.

 M1.4.1 bzw. a): Mit diesem Merkmal ist beansprucht, dass im Verfahren zunächst eine Mehrzahl von Parameterwerten/-sätzen eines oder mehrerer Ermittlungsparameter „erzeugt“ oder „empfangen“ werden soll. Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung dessen erste „Zeile“, die drei Parameter (1 bis 3) als Ausgangslinie der Bestimmung einer finalen Korrekturfunktion im Rahmen eines letztlich insgesamt als Iteration aufzufassenden Verfahrensablaufs zeigt.

 M1.4.2 bzw. b): Mit diesem Merkmal ist beansprucht, dass im Verfahren als nächster Schritt für jeden der Mehrzahl von Parameterwerten des Ermittlungsparameters oder für jeden der Mehrzahl von Parameterwert-Sätzen der mehreren Ermittlungsparameter jeweils eine Korrekturfunktion bestimmt wird.

Skizze des Senats zu einer Ausgestaltung des Verfahrens gemäß Patentanspruch 1 Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung dessen zweite „Zeile“, die für jeden der drei Parameter (1 bis 3) als nächsten Verfahrensschritt die Bestimmung einer diesem jeweils zugeordneten Korrekturfunktion vorsieht (daraus ergibt sich eine spaltenartige Darstellung für jeden einzelnen der drei einzelnen Parameterwerte), die auch auf einen (zugeordneten) vorliegenden Bild- oder Volumendatensatz angewendet werden kann bzw. soll.

 M1.4.3 bzw. c): Mit diesem Merkmal werden insgesamt drei Alternativen beansprucht, die implizit voraussetzen, dass mit den Maßnahmen b) gemäß Merkmal M1.4.2 bereits bestimmte Korrekturfunktionen existieren bzw. diese mit den CT-Messergebnissen - respektive dem Durchstrahlungsbild - geeignet verknüpft worden sind, um damit eine Korrektur desselben durchzuführen. Im Anschluss daran sollen o Unterschiede zwischen den mit unterschiedlichen Korrekturfunktionen korrigierten Durchstrahlungsbildern oder o Unterschiede zwischen korrigierten rekonstruierten Volumina des Messobjektes ermittelt werden oder o Unterschiede bestimmt werden, die auf dem Vergleich der jeweils bestimmten Korrekturfunktionen basieren.

Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung zunächst dessen dritte und vierte „Zeile“, die für jede der drei ermittelten Korrekturfunktionen einen Vergleich ihrer selbst oder der Ergebnisse ihrer Anwendung auf ein CT-Bild oder die entsprechende Volumeninformation des zu untersuchenden Objektes mit den jeweils beiden anderen vorhandenen vorsieht. D. h. letztlich wird ein Vergleich der Ergebnisse der in der Skizze als „Spalten 1 bis 3“ (zugeordnet zu den ursprünglichen Parametern 1 bis 3) bezeichneten Schritte des bisherigen Verfahrensablaufs, und zwar Bild/Volumen/Korrekturfunktion 1 mit 2, 2 mit 3 und 3 mit 1 durchgeführt. Daraus wird jeweils ein „Unterschied“ (vgl. „Zeile“ 5 in der Skizze) zwischen den dergestalt erzielten Ergebnissen ermittelt. Die Verarbeitungsreihenfolge und Verknüpfung der jeweils einem Vergleich unterzogenen Daten wird durch die diese verbindenden durchgezogenen (1 mit 2), gestrichelten (2 mit 3) und strich-punktierten (3 mit 1) Pfeile in der Skizze entsprechend hervorgehoben (vgl. UU, S. 3, Abs. 4 bis S. 4, Abs. 2 i. V. m. S. 10, Abs. 7 bis S. 11, Abs. 2).  M1.4.4 bzw. d): Mit diesem Merkmal wird beansprucht, dass eine Optimierungsprozedur durchgeführt wird, und zwar dergestalt, dass ein Minimieren der Unterschiede (z. B. der korrigierten Durchstrahlungsbilder) durch Variieren einer „Art“ (i. S. v. einem Typ, beispielsweise bei den Polynomfunktionen deren Grad; vgl. UU, S. 8, Abs. 4) mindestens einer der Korrekturfunktionen und/oder durch Variieren des Ermittlungsverfahrens und durch Wiederholen des Bestimmens der Korrekturfunktionen gemäß Maßnahme b) und des Bestimmens von Unterschieden gemäß der Maßnahme c) erfolgt.

Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung zunächst die sich als Block darstellende sechste „Zeile“, die das Minimieren der durch die drei vorangegangenen Vergleiche (1 mit 2, 2 mit 3, 3 mit 1) bestimmten Differenzen („Unterschiede“) zum Ziel hat. Dem schließt sich – sollte der ermittelte Unterschied jeweils qualitativ noch nicht überzeugen können, weil er bspw. noch keinen vorgegebenen Schwellwert unterschreitet - eine weitere iterative Prozedur an, welche die in den Merkmalen M1.4.1 bis M1.4.3 beschriebenen Schritte erneut aufgreift und durchführt. Diese als Schleifenoperation aufzufassende Maßnahme (vgl. UU, Fig. 1, Schritte 101 bis 106) wird dabei so lange durchgeführt („Zeilen“ 7 bis 11 der Skizze), bis die Unterschiede z. B. den bereits oben genannten vorgegebenen Schwellwert unterschreiten und es damit unerheblich wird, welche der so ermittelten Korrekturfunktionen im weiteren Verlauf zur Korrektur der vorliegenden Daten verwendet wird.

 M1.4.5 bzw. e): Mit diesem Merkmal wird zum Abschluss der iterativen Optimierung das Ausgeben von (Ergebnis-)Information beansprucht. Diese Information soll dabei zumindest eine der durch Maßnahme d) – also die Schleifenoperation - erhaltenen Korrekturfunktionen als die letztgültig zum Korrigieren zu verwendende Korrekturfunktion eindeutig beschreiben („Zeile“ 12 der Skizze und UU, Fig. 1, Schritt 107). Auf welche Art diese konkret beschrieben werden soll, bleibt dabei aber offen.

6. Der Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1 ist gegenüber dem vorliegenden Stand der Technik neu (§ 3 PatG).

6.1 Als geeigneten Ausgangspunkt für Überlegungen des Fachmanns sieht der Senat die Druckschrift KETCHAM & HANNA (2014) (D1) an. Dieser wissenschaftliche Fachartikel zur rechnertechnischen Korrektur von Strahlaufhärtungseffekten bei der Auswertung von mittels Computertomografie aufgezeichneten Bilddaten stellt speziell auf die Untersuchung von heterogenen natürlichen Materialien – wie etwa mineralogische Proben und Fossilien - ab. Es wird letztlich ein empirisches, von einem Nutzer aktiv variiertes iteratives Optimierungsverfahren vorgestellt, das zum Ziel hat, eine Linearisierungsfunktion als Korrekturfunktion für Durchstrahlungsbilddaten der untersuchten Objekte anzugeben.

Aus diesem Fachartikel sind die Merkmale M1.1 bis M1.4 bekannt:

M1.1 Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes, das durch Bestrahlen eines Objektes mit polychromatischer invasiver Strahlung und durch Detektieren von geschwächter, durch das Objekt hindurch gestrahlter Strahlung erhalten wird oder wurde, Titel + Abstract, insb.: „… method for correcting beam hardening artifacts in polychromatic X-ray CT data. On most industrial CT systems, software beam-hardening correction employs some variety of linearization, which attempts to transform the polychromatic attenuation data into its monochromatic equivalent prior to image reconstruction. …“ M1.2 wobei zum Korrigieren eine von mehreren Korrekturfunktionen verwendet wird, Kap. 2.2, wobei die Korrekturfunktion letztlich eine kubische Splinefunktion ist, insb.: „The beam hardening correction ultimately consists of a conversion of the raw sinogram data. Each detector reading is cast as – ln(I/I0), which can be considered as a polyenergetic ray sum p. … we use a set of evenly-spaced points over the data range of the raw values, and interpolate between them with a cubic spline to ensure a smooth solution. …“ M1.3 die jeweils durch den Parameterwert zumindest eines Korrekturparameters bestimmt sind, Kap. 2.3 zeigt zumindest im Rahmen der einzelnen Stützstellen („anywhere from 3 to 20“, „mj“) der kubischen Splinefunktion eine durch den Nutzer bestimmbare Anzahl derselben und auf Basis der Gleichung (5) für einzelne Stützstellen eine Angabe von Parameterwerten/Faktoren („cj“), die variiert werden können.

M1.4 wobei zur Ermittlung des Parameterwertes oder der Parameterwerte der zum Korrigieren zu verwendenden Korrekturfunktion ein Ermittlungsverfahren angewendet wird, das durch den Parameterwert eines Ermittlungsparameters oder die Parameterwert-Sätze mehrerer Ermittlungsparameter bestimmt ist, und wobei das Verfahren ferner folgende Maßnahmen umfasst:

Kap. 2.1 zeigt als einen Ansatzpunkt für Entwicklungsparameter/-sätze mit nutzerseitig gewählten „regions of interest (ROI)“ und der „merit function“ insb.: „The merit function consists of statistics characterizing the CT numbers in a series of regions of interest (ROIs) defined by the user in a reconstructed CT image, as shown in the examples below. ROIs can be specified by a graphical user interface as either rectangular or elliptical, or as contours surrounding some part of the image. … The merit function is then calculated as the relative variation (the standard deviation divided by the mean) of CT numbers in these ROIs, either individually or in various combinations. …“ i. V. m. Kap. 4 (S. 53, Sp. 1), insb. „We … refer to the image data values generically at “CT numbers”, …“; Jedoch sind die Merkmale M1.4.1 bis M1.4.5 nicht in ihrer beanspruchten konsekutiven – und damit jeweils aufeinander aufbauenden - Weise aus dieser Druckschrift zu entnehmen. Diese Schlussfolgerung ergibt sich insbesondere daraus, dass die Lehre der Druckschrift D1 lediglich vorsieht, für jeden Durchlauf zur Bestimmung einer einzigen Linearisierungsfunktion durch den Nutzer aufbauend auf seiner Fachkenntnis bei der Interpretation von CT-Bilddaten für ihn geeignete „regions of interest (ROI)“ auszuwählen und diese der Korrekturfunktionssuche zugrunde zu legen (vgl. D1, Kap. 2, 2.1 bis 2.3 i. V. m. Fig. 2, 3H, 4F, 5I). Wird am Ende der Iteration kein Schwellwert bei der Optimierung der Korrekturfunktion unterschritten (vgl. D1, Kap. 2.3), der als Maß für die gute Qualität der ermittelten Korrekturfunktion gelten kann, wird dieser Prozess abgebrochen und ein neuer mit neu gewählten ROI angestoßen. Dieser Prozess wird solange wiederholt, bis auf Basis dieser empirischen ROI-Auswahl durch den Nutzer eine einzige finale Korrekturfunktion bestimmt wird, die die dortigen Schwellwertkriterien erfüllt. Damit steht dieses Vorgehen im Gegensatz zum beanspruchten Gegenstand, nämlich eine auf mehreren unterschiedlichen Ausgangsparametern aufbauende parallele Korrekturfunktionsermittlung multipler Korrekturfunktionen durchzuführen, die insbesondere auf den ständigen Vergleich aller Ergebnisse von Zwischenschritten und der Minimierung von deren Unterschieden abzielt, wobei der Nutzer – außer zu Beginn bei der Auswahl der Ausgangsparameter - selbst nicht mehr in den iterativen Prozess der Ermittlung der finalen Korrekturfunktion(en) eingreifen muss.

Mit Bezug zur senatsseitig eingeführten, oben abgebildeten Skizze erschöpft sich damit die mit der Druckschrift D1 verbundene Lehre in der Durchführung einer alleinigen sequentiellen „Optimierung“ von Ergebnissen im Rahmen der „Spalte 1“ der Skizze, d. h. unter Benutzung und iterativer Optimierung von lediglich einer einzigen Korrekturfunktion. Zu dieser iterativen Optimierung können durchaus auch zwei gewählte „ROI“ unterschiedlichster Verortung ihren Beitrag (für eine Zielfunktion) leisten. Sie treten jedoch verknüpft und nicht eigenständig als separate Parameter – wie im Beispiel der Skizze als multiple „Spalten“ angelegt und mit Patentanspruch 1 gefordert - in den dortigen anspruchsgemäßen Verfahrensverlauf zur simultanen / parallelen Ermittlung von multiplen, jeweils eigenständigen Korrekturfunktionen ein (vgl. beispielsweise D1, Fig. 3D und 3I „air correction“; Fig. 5F und 5J „two materials“).

Damit ist der Gegenstand des Patentanspruchs 1 neu gegenüber der Lehre der Druckschrift D1. 6.2 Die übrigen im Verfahren befindlichen Druckschriften D2 bis D5 liegen gegenüber dem Gegenstand des Patentanspruchs 1 allesamt weiter ab und können dessen Neuheit nicht in Frage stellen.

7. Der Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1 beruht gegenüber dem vorliegenden Stand der Technik auch auf einer erfinderischen Tätigkeit (§ 4 PatG). Der Fachmann hat aus Sicht des Senats ausgehend von der Druckschrift D1 keinen Anlass, deren Lehre in Richtung auf den Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1 weiterzuentwickeln. Es werden dort weder zu behebende Defizite benannt, noch aufgrund der in der Praxis gegebenen rechnertechnischen Möglichkeiten ggf. problemlos umsetzbare nutzerunabhängige Alternativen nahegelegt, die zu der beanspruchten mehrstufigen und parallelen Korrekturfunktionsbestimmung mit internen Quervergleichen und daraus resultierenden Optimierungsprozeduren führen. Dort werden vielmehr – wie bereits im Rahmen der Neuheitsbetrachtung ausgeführt - bei einem nicht zufriedenstellenden Optimierungsprozess der dort gemäß D1 einzig vorhandenen Korrekturfunktion die anfänglichen Ursprungsparameter („ROI“) durch den Nutzer verworfen, im Anschluss ein weiterer – letztlich wieder unmittelbar von vorne beginnender – Prozess wie der zuerst angeführte durchlaufen, nur mit neuen / anderen Ursprungsparametern. Beschreibt man diese Vorgehensweise anhand obiger Skizze, deckt die Lehre der Druckschrift D1 damit nur die erste „Spalte“ der dortigen Maßnahmen ab (vgl. erneut obige Ausführungen zur Neuheit). Damit ist ein Ablauf, wie ihn die zusätzlichen Spalten 2 und 3 im Verbund mit dem der Spalte 1 fordern, weder verwirklicht noch für den Fachmann in beanspruchter Weise angelegt.

Dies gilt auch unter Berücksichtigung der weiteren genannten Druckschriften des Standes der Technik, die ein solches Vorgehen ebenso weder thematisieren noch vergleichbare Vorgehensweisen zeigen, die den Fachmann entsprechend anleiten könnten.

8. Entsprechendes gilt für den im Wesentlichen merkmalsgleichen, auf einen Computertomographen gerichteten nebengeordneten Patentanspruch 9. 9. Die abhängigen Patentansprüche 2 bis 8, an deren Zulässigkeit jeweils keine Zweifel bestehen, bilden den Gegenstand des Patentanspruchs 1, auf den sie jeweils direkt oder indirekt rückbezogen sind, in nicht selbstverständlicher Weise weiter aus und erweisen sich daher ebenfalls als patentfähig.

10. Im Ergebnis war daher der Beschwerde der Anmelderin – unter gleichzeitiger Aufhebung des angefochtenen Beschlusses – stattzugeben und das nachgesuchte Patent im Umfang des zuletzt gestellten Antrags zu erteilen.

Rechtsmittelbelehrung

Gegen diesen Beschluss steht jedem am Beschwerdeverfahren Beteiligten, der durch diesen Beschluss beschwert ist, die Rechtsbeschwerde zu (§ 99 Abs. 2, § 100 Abs. 1, § 101 Abs. 1 PatG). Da der Senat in seinem Beschluss die Rechtsbeschwerde nicht zugelassen hat, ist sie nur statthaft, wenn gerügt wird, dass 1. 2. 3. 4. das beschließende Gericht nicht vorschriftsmäßig besetzt war, bei dem Beschluss ein Richter mitgewirkt hat, der von der Ausübung des Richteramtes kraft Gesetzes ausgeschlossen oder wegen Besorgnis der Befangenheit mit Erfolg abgelehnt war, einem Beteiligten das rechtliche Gehör versagt war, ein Beteiligter im Verfahren nicht nach Vorschrift des Gesetzes vertreten war, sofern er nicht der Führung des Verfahrens ausdrücklich oder stillschweigend zugestimmt hat, 5. der Beschluss auf Grund einer mündlichen Verhandlung ergangen ist, bei der die Vorschriften über die Öffentlichkeit des Verfahrens verletzt worden sind, oder 6. der Beschluss nicht mit Gründen versehen ist (§ 100 Abs. 3 PatG).

Die Rechtsbeschwerde ist von einer beim Bundesgerichtshof zugelassenen Rechtsanwältin oder von einem beim Bundesgerichtshof zugelassenen Rechtsanwalt innerhalb eines Monats nach Zustellung dieses Beschlusses beim Bundesgerichtshof, Herrenstraße 45 a, 76133 Karlsruhe, einzulegen (§ 102 Abs.1, Abs. 5 Satz 1 PatG).

Musiol Dorn Dr. Wollny Dr.-Ing. Ball

Bundespatentgericht

20 W (pat) 20/25

(Aktenzeichen) Verkündet am 15. April 2026 …