BPatG Beschluss vom 23.03.2026 – 11 W (pat) 22/23

BUNDESPATENTGERICHT

11 W (pat) 22/23

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(Aktenzeichen) …

B E S C H L U S S

In der Einspruchsbeschwerdesache

ECLI:DE:BPatG:2026:230326B11Wpat22.23.0

betreffend das deutsche Patent 10 2017 117 413

hat der 11. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts am 23. März 2026 durch die Vorsitzende Richterin Dipl.-Phys. Univ. Dr. Otten- Dünnweber sowie die Richter Dipl.-Ing. Brunn, Dr. Poeppel und Dr.-Ing. Huber

beschlossen:

Auf die Beschwerde der Einsprechenden wird der Beschluss der Patentabteilung 34 des Deutschen Patent- und Markenamts vom 17. März 2022 aufgehoben und das Patent widerrufen.

G r ü n d e

I.

1. Auf die am 1. August 2017 beim Deutschen Patent- und Markenamt eingereichte Patentanmeldung ist die Erteilung des Patents mit der Bezeichnung „Verfahren zur optischen Messung der Einschweißtiefe“ am 28. November 2019 veröffentlicht worden. Gegen das Patent hat die Einsprechende am 27. August 2020 Einspruch erhoben und beantragt, das Patent im vollen Umfang zu widerrufen.

Die Einsprechende hat ihr Vorbringen auf folgende Dokumente gestützt:

E6 WO 2014 / 138 939 A1 E7 US 7 995 207 B2 E8 „ICI of Laser Materials Processing: Development, Diagnosis and Control", Paul J.L. Webster et al.; SLPC 2014, 22. April 2014 E8a "Advance Program, updated March 6, 2014", SLPC 2014, The First Smart Laser Processing Conference 2014, 22. —24. April 2014, Yokohama, Japan E9 "LaserDepth Real-Time Measurement System, LD-600 Application Guide©", 2012-2013, www.laserdepth.com E10 "Using Matlab for Curve Fitting in Junior Lab", vom 31. August 2004, MIT Department of Physics, http://web.mit.edu/8.13/matlab/DOCS/fitting-quickstart-OLD.pdf Die Patentinhaberin hat ihr Patent mit der erteilten Fassung als Hauptantrag im vollen Umfang und mit einem Hilfsantrag 0 beschränkt verteidigt. Die Patentabteilung 34 des Deutschen Patent- und Markenamts hat dem Hilfsantrag 0 in der Anhörung vom 17. März 2022 mit Beschluss stattgegeben und das Patent beschränkt aufrechterhalten.

Die Patentabteilung 34 begründete ihre Entscheidung damit, dass der Gegenstand des erteilten Patentanspruchs 1 gemäß Hauptantrag gegenüber dem Stand der Technik nach der E6 nicht neu sei. Der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 wäre hingegen dem relevanten Stand der Technik nicht zu entnehmen und dem Fachmann somit auch nicht nahegelegt.

Gegen diesen am 12. April 2022 zugestellten Beschluss richtet sich die Beschwerde der Einsprechenden vom 11. Mai 2022. Die Einsprechende vertritt die Auffassung, der Anspruch 1 nach Hilfsantrag 0 sei unzulässig erweitert sowie für den Fachmann nicht ausführbar. Weiterhin sei der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 gegenüber der Offenbarung der E6 nicht neu bzw. würde nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit beruhen.

Die Einsprechende beantragt:

1. Das Patent DE 10 2017 117 413 B4 in vollem Umfang zu widerrufen.

2. Hilfsweise eine Anhörung anzuberaumen (§ 78 Nr. 1 PatG). Die Patentinhaberin hat im Beschwerdeverfahren keine Anträge gestellt und sich zur Sache nicht geäußert. Der Senat hat den Parteien im Rahmen der Terminsladung vom 24. November 2025 die vorläufige Beurteilung des Senats mitgeteilt, wonach das Merkmal 1.4* entgegen dem Vortrag der Einsprechenden zulässig und auch ausführbar sei, dieses Merkmal jedoch entgegen den Ausführungen der Patentabteilung aus der Druckschrift E6, insbesondere S. 38 – 40, „Working Example – Third and Fourth Experiment“, bekannt wäre. Dementsprechend wäre der Beschwerde stattzugeben und das Patent in vollem Umfang zu widerrufen. Darüber hinaus dürften auch die Gegenstände der von der Patentinhaberin im Einspruchsverfahren vor der Patentabteilung eingereichten Hilfsanträge 1 und 2 aus der Druckschrift E6 bekannt sein.

Daraufhin hat sich die Patentinhaberin und Beschwerdegegnerin im Beschwerdeverfahren erstmalig mit dem Schriftsatz vom 11. Dezember 2025 geäußert und darin lediglich mitgeteilt, dass sie an der für den 12. Februar 2026 anberaumten mündlichen Verhandlung nicht teilnimmt und dass auch keine weitere Eingabe eingereicht wird.

Daraufhin hat der Senat am 5. Januar 2026 den Verhandlungstermin von Amts wegen aufgehoben. Die am Einspruchsverfahren vor dem DPMA als Einsprechende beteiligte I… GmbH, in deren Namen Beschwerde eingelegt wurde, wurde im Laufe des Beschwerdeverfahrens im Wege des Formwechsels in die I… GmbH & Co. KG umgewandelt und deren Firma in I… P… GmbH & Co. KG geändert.

2. Der Patentanspruch 1 nach Hilfsantrag 0 lautet in gegliederter Fassung (entsprechend dem Beschluss der Patentabteilung, Änderung gegenüber der erteilten Fassung in M1.4* markiert):

M1.1 Verfahren zur Messung der Einschweißtiefe beim Schweißen mittels eines Arbeitslaserstrahls (36), bei dem M1.2 ein Messlichtstrahl (28) eines Sensorsystems (10) in einen Bearbeitungsstrahlengang (30) des Arbeitslaserstrahls (36) in einem Laserbearbeitungskopf (26) eingekoppelt und von einer Fokussieroptik (42) des Bearbeitungsstrahlengangs (30) in einen Messlichtfleck auf einer Oberfläche eines Werkstücks (44) gebündelt oder fokussiert wird, M1.3 der an der Oberfläche des Werkstücks (44) reflektierte Messlichtstrahl (28) zu einer Mess- und Auswerteeinheit (12) des Sensorsystems (10) zurückgeführt wird, um Information über den Abstand der Oberfläche des Werkstücks (44) vom Laserbearbeitungskopf (26) zu erhalten, M1.4* die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks (44) durch eine Ablenkeinheit (48) entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu über die Dampfkapillare (54) geführt wird, um ein Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare (54) zu erhalten, M1.5 die Position der Dampfkapillare (54) relativ zum Auftreffpunkt (56) des Arbeitslaserstrahls (36) aus dem Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare (54) ermittelt wird, und M1.6 der Messlichtfleck zur Messung der Einschweißtiefe bei der Laserbearbeitung in die ermittelte Position der Dampfkapillare (54) bewegt wird.

Wegen weiterer Einzelheiten, insbesondere zum Wortlaut der abhängigen Patentansprüche 2 bis 9 nach Hilfsantrag 0, wird auf die Amts- und Gerichtsakten verwiesen.

II.

1. Die Beschwerde ist frist- und formgerecht eingereicht und im Übrigen zulässig. Der Einspruch war ausreichend mit Gründen versehen und ebenfalls zulässig. Die Umwandlung und Umfirmierung der Einsprechenden I… GmbH, in deren Namen Beschwerde eingelegt wurde, im Laufe des Beschwerdeverfahrens zur I… P… GmbH & Co. KG lässt die Identität des Rechtsträgers der Beschwerdeführerin unberührt, so dass die I… P… GmbH & Co. KG als Beschwerdeführerin zu führen und auch beschwerdeberechtigt ist.

Der Senat geht davon aus, dass die Patentinhaberin und Beschwerdegegnerin die Zurückweisung der Beschwerde beantragt. Da die Patentinhaberin im Beschwerdeverfahren keine Anträge gestellt und sich in der Sache nicht geäußert hat, fehlt es an Anhaltspunkten für eine hiervon abweichende Auslegung.

2. Die Beschwerde der Einsprechenden ist in der Sache auch begründet, da sie zur Aufhebung des Beschlusses der Patentabteilung 34 und zum Widerruf des Patents führt. a. Das Streitpatent betrifft ein Verfahren zur optischen Messung der Einschweißtiefe beim Schweißen mittels Laserstrahlen. Nach Angaben der Streitpatentschrift ist aus dem Stand der Technik bekannt, zur optischen Messung der Einschweißtiefe optische Sensoren zur Abstandsmessung einzusetzen, die nach dem Prinzip der optischen Kurzkohärenz Interferometrie arbeiten, bei dem Messlicht in einen Messlichtstrahl bzw. Messstrahl und einen Referenzlichtstrahl bzw. Referenzstrahl aufgespaltet wird. Die aus einem Messarm und einem Referenzarm zurückreflektierten Mess- und Referenzlichtstrahlen werden einander überlagert, um aus den Wegunterschieden zwischen Mess- und Referenzarm die gewünschte Abstandsinformation zu ermitteln (vgl. Absatz [0002] der Streitpatentschrift DE 10 2017 117 413 B4).

Entsprechend der Beschreibung des Streitpatents basieren bekannte technische Lösungen zur genauen Positionierung eines optischen Messlichtstrahls beim Laserschweißen auf kamerabasierten Verfahren zur Ermittlung der Messstrahlposition relativ zum Arbeitslaserstrahl. Diese Verfahren würden auf einer indirekten Ermittlung der Position des Messlichtstrahls auf der Werkstückoberfläche beruhen, die für die Einschweißtiefenmessung benötigt wird. Die optimale Position des Messlichtstrahls relativ zum Bearbeitungsstrahl für eine zuverlässige Einschweißtiefenmessung sei jedoch von unterschiedlichen Prozessparametern abhängig und könne daher mit den indirekten Verfahren zur Positionsermittlung nicht hinreichend genau bestimmt werden. Dies gelte insbesondere für die Lagebestimmung der Dampfkapillare, also des Keyholes, da es schwierig sei, mit bildgebenden Verfahren die genaue Lage des Keyholes im Bearbeitungsbereich, also im Auftreffbereich des Arbeitslaserstrahls zu erfassen (vgl. Streitpatent, Absätze [0004], [0005], [0009]).

Aus der DE 10 2016 109 909 A1 sei weiterhin eine Vorrichtung zur Prozessüberwachung beim Laserschweißen und Lasertiefschweißen mit einer optischen Abstandsmessvorrichtung bekannt, die eine Messlichtquelle zur Erzeugung eines Messlichtstrahls, der auf eine Werkstückoberfläche zur Bildung eines Messlichtflecks fokussiert wird und mit einer Prismen-Ablenkeinheit mit zumindest einem Prisma aufweist. Das Prisma sei um eine quer zum Messlichtstrahl verlaufende Achse drehbar gelagert und lenkt den Messlichtstrahl zur Positionierung des Messlichtflecks auf der Werkstückoberfläche lateral ab (vgl. Absatz [0010] des Streitpatents).

Davon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde (vgl. Absatz [0011] Streitpatent), ein Verfahren zur optischen Messung der Einschweißtiefe bereitzustellen, das eine genaue Positionierung des Messlichtstrahls auf die Position des Keyholes und damit eine zuverlässige Messung der Einschweißtiefe bei der Laserbearbeitung ermöglicht.

Als mit der Lösung dieser Aufgaben befasste Fachmann ist ein Diplom-Physiker oder Diplom-Ingenieur der Fachrichtung Maschinenbau mit mehrjähriger Erfahrung in der Konzeption und Entwicklung von optischen Messinstrumenten für Laserbearbeitungsmaschinen sowie deren Programmierung zur Implementierung entsprechender Messverfahren anzusehen.

Einige der Merkmale bedürfen einer Auslegung:

Unter der Einschweißtiefe nach Merkmal M1.1 versteht der Fachmann die Tiefe der Dampfkapillare, die sich im Auftreffbereich 56 des Arbeitslaserstrahls 36 auf dem Werkstück 44 befindet (vgl. Figur 3 und Absatz [0027] des Streitpatents). Dabei entspricht die Tiefe der Dampfkapillare bis auf einen Korrekturfaktor im Wesentlichen der Tiefe des Schweißbads.

Das Merkmal M1.3 fordert lediglich, dass durch den an der Oberfläche des Werkstücks reflektierten Messlichtstrahl, der zur Mess- und Auswerteeinheit des Sensorsystems zurückgeführt wird, eine Information über den Abstand der Oberfläche des Werkstücks vom Laserbearbeitungskopf erhalten wird. Dabei bleibt offen, ob es sich hierbei um eine relative oder eine absolute Abstandsinformation handelt. Beide Varianten fallen unter den Anspruch.

Nach Merkmal 1.4 des erteilten Patentanspruchs wird die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu über die Dampfkapillare geführt, um ein Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare zu erhalten. Durch die Ergänzung im Merkmal 1.4* wird dies dahingehend präzisiert, dass die Position des Messlichtflecks durch eine Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen geführt wird.

Entsprechend den Ausführungen des Streitpatents in Absatz [0028] dient diese Führung des Messlichtflecks dazu, für einen bestimmten Laserbearbeitungsprozess, der durch seine Prozessparameter wie Vorschubgeschwindigkeit, Laserleistung, Fokuslage des Arbeitslaserstrahls in z-Richtung, Material des Schweißguts und/oder die Nahtgeometrie klassifiziert werden kann, die relative Lage der Dampfkapillare zum Auftreffbereich des Arbeitslaserstrahls zu ermitteln. Dies geschieht in einer sogenannten Test- oder Messschweißfahrt, bei der mit Hilfe der Ablenkeinheit die Position des Messlichtstrahls bzw. des dadurch erzeugten Messlichtflecks auf dem Werkstück während des Schweißprozesses auf einer linearen Bahn sowohl in Schweißrichtung als auch senkrecht dazu über die Dampfkapillare bzw. das Keyhole bewegt wird. Entsprechend Absatz [0039] wird dabei die Position des tiefsten Punktes der Dampfkapillare mithilfe von Abstandsdaten ermittelt, die entlang von zwei sich schneidenden linearen Bahnen erhalten wurden.

Damit soll bei der nachfolgenden Bearbeitung von Werkstücken mit einem Laserbearbeitungsprozess, der mit denselben Prozessparametern durchgeführt wird wie die Messschweißfahrt, der Messlichtstrahl genau in das Keyhole bzw. die Dampfkapillare gerichtet werden, um eine zuverlässige und genaue Messung der Einschweißtiefe zu ermöglichen (Absatz [0034]).

Da sich bei der Messschweißfahrt der Laserbearbeitungskopf gegenüber dem Werkstück in Schweißrichtung bewegt, ist für den Fachmann klar, dass mit der Ermittlung der Abstandsdaten entlang von zwei sich schneidenden linearen Bahnen ein vollständiges Oberflächenprofil des Werkstücks ermittelt werden kann, da bei entsprechender Vorschubbewegung des Laserbearbeitungskopfes durch den Messlichtstrahl immer neue lineare, quer zur Vorschubrichtung verlaufende Bahnen abgetastet werden.

Das Merkmal 1.4* des Anspruchs 1 ist aber nicht darauf beschränkt, dass zwingend eine Messschweißfahrt durchgeführt werden muss. Auch eine Messung während des Bearbeitungsprozesses wird vom Umfang des Anspruchs 1 mitumfasst. Entsprechend Merkmal M1.5 wird aus dem ermittelten Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare die Position der Dampfkapillare relativ zum Auftreffpunkt des Arbeitslaserstrahls ermittelt und dementsprechend nach Merkmal M1.6 der Messlichtfleck zur Messung der Einschweißtiefe bei der Laserbearbeitung in die ermittelte Position der Dampfkapillare bewegt.

b. Zulässigkeit des Patentanspruchs 1 Die Beschwerdeführerin vertritt die Auffassung, dass das Merkmal 1.4* eine unzulässige Erweiterung darstelle, da sein Gegenstand für den Fachmann nicht unmittelbar und eindeutig aus den Anmeldeunterlagen zu entnehmen sei. Der Fachmann wisse, dass durch ein Führen der Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks durch eine Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu über die Dampfkapillare ein Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare nicht zu erhalten sei, da die zwei linearen Bahnen nur marginal eine Oberfläche des Werkstücks überdecken würden. Weiterhin sei fraglich, ob der Fachmann dem Absatz [0037] unmittelbar und eindeutig entnehmen könne, dass die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks durch eine Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu über die Dampfkapillare geführt wird. Absatz [0037] offenbare lediglich, dass die Position der Dampfkapillare mithilfe von (diskreten) Abstandsdaten, die entlang von zwei sich schneidenden linearen Bahnen 60 und 62 erhalten wurden, ermittelt wird. Insoweit sei es zum Beispiel denkbar, dass das Messlicht zwischen den Abtastpunkten ausgeschaltet und/oder zwischen den Abtastpunkten nichtlinear geführt werde.

Das Merkmal 1.4* stelle auch eine unzulässige Zwischenverallgemeinerung dar, da der Absatz [0037] die zwei sich schneidenden Bahnen ausschließlich im Zusammenhang mit der Ermittlung der Position des tiefsten Punktes der Dampfkapillare nennt, die allerdings nicht Gegenstand von Anspruch 1 sei. Der Senat vermag der Argumentation der Beschwerdeführerin nicht zu folgen. Entsprechend der Auslegung des Anspruchs 1 erfolgt die Ermittlung der Abstandsdaten entlang der beiden sich schneidenden Bahnen während einer Messschweißfahrt, bei der sich der Laserbearbeitungskopf linear entlang der Schweißrichtung gegenüber dem Werkstück bewegt. Der Fachmann kann daher dem Streitpatent die Positionierung des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks durch die Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen zweifellos entnehmen, so dass die Ergänzung entsprechend dem Merkmal 1.4* in den Absätzen [0026], [0032] und [0037] der ursprünglich eingereichten Unterlagen zweifellos offenbart wurde (hier Bezug nehmend auf die Offenlegungsschrift DE 10 2017 117 413 A1).

Das Merkmal 1.4* stellt auch keine Zwischenverallgemeinerung dar. Laut dem ersten Satz von Absatz [0037] der ursprünglichen Unterlagen ist die Position der Dampfkapillare 54 mit der Position des tiefsten Punktes der Dampfkapillare 54 gleichzusetzen (vgl. Offenlegungsschrift, erster Satz von Absatz [0037]: „Anstelle der Ermittlung der Position der Dampfkapillare 54, also der Position des tiefsten Punktes der Dampfkapillare 54 mithilfe von Abstandsdaten……“). Somit ist die Ermittlung der Position des tiefsten Punktes der Dampfkapillare auch schon Gegenstand des ursprünglich eingereichten Anspruchs 1. c. Ausführbarkeit des Patentanspruchs 1 Die Beschwerdeführerin vertritt weiterhin die Auffassung, das Merkmal 1.4* sei für den Fachmann ferner nicht ausführbar, da entsprechend ihrer Ausführungen zur Zulässigkeit des Anspruchs 1 ein Oberflächenprofil des Werkstücks nicht via Abtastung entlang von zwei sich schneidenden linearen Bahnen erhalten werden könne.

Auch dieser Auffassung vermag der Senat nicht zu folgen. Entsprechend den Ausführungen zur Auslegung und zur Zulässigkeit des Anspruchs 1 ist die Ausführbarkeit des Patentanspruchs 1 zweifellos gegeben. d. Patentfähigkeit des Patentanspruchs 1 Entgegen den Ausführungen der Patentabteilung beruht der Gegenstand des Patentanspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 ausgehend vom Stand der Technik der E6 jedenfalls nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit.

aa) Die Beschwerdeführerin vertritt die Auffassung, dass neben den Merkmalen des ursprünglich erteilten Patentanspruchs 1 auch das zusätzliche, dem Merkmal 1.4* hinzugefügte Merkmal durch die E6 neuheitsschädlich vorweggenommen würde und der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 im Lichte der E6 (WO 2014 / 138 939 A1) nicht neu bzw. zumindest nicht erfinderisch sei.

Seitens der Patentinhaberin liegt zum Merkmal 1.4*, welches Bestandteil des erst in der Einspruchsverhandlung eingereichten Hilfsantrags 0 ist, keine schriftliche Stellungnahme vor. Die Patentabteilung hat zutreffend ausgeführt, dass die E6 ein Verfahren zur Messung der Einschweißtiefe beim Schweißen mittels eines Arbeitslaserstrahls offenbart (Fig.2, Ansprüche 61 - 64, M1.1), bei dem ein Messlichtstrahl 20 eines Sensorsystems 21 in einen Bearbeitungsstrahlengang des Arbeitslaserstrahls 16 in einem Laserbearbeitungskopf 28 eingekoppelt und von einer Fokussieroptik 18 des Bearbeitungsstrahlengangs in einen Messlichtfleck auf einer Oberfläche eines Werkstücks gebündelt oder fokussiert wird (Fig. 2, M1.2). Weiterhin wird der an der Oberfläche des Werkstücks 12, 14 reflektierte Messlichtstrahl 20 zu einer Mess- und Auswerteeinheit des Sensorsystems 21 zurückgeführt, um Information über den Abstand der Oberfläche des Werkstücks vom Laserbearbeitungskopf 28 zu erhalten (S. 23, Z. 5 – 23, M1.3).

Die E6 offenbart auch, dass entsprechend dem Merkmal 1.4 des ursprünglich erteilten Patentanspruchs 1 die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks 12, 14 sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu über die Dampfkapillare 30 geführt wird, um ein Oberflächenprofil des Werkstücks 12, 14 im Bereich der Dampfkapillare 30 zu erhalten (z.B. S. 9, Z. 3 – 6: „The imaging beams, […] used to measure, instantaneously and/or over a period of time, one or a combination of two or more of keyhole length, width, […] surface shape“; S. 10, Z. 9 – 10: „Keyhole Surface Shape - The left and right side widths of the keyhole as measured relative to the processing laser at various points along the length of the keyhole.“). Ergänzend wird hierzu noch auf die Offenbarung Seite 40, Zeilen 1 bis 15 verwiesen. Entsprechend Seite 10, Zeilen 1 bis 2 in Verbindung mit Seite 16, Absatz 3 offenbart die E6 auch das Merkmal 1.5, wonach die Position der Dampfkapillare relativ zum Auftreffpunkt des Arbeitslaserstrahls aus dem Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare ermittelt wird.

Nach der Beschreibung Seite 38, Zeilen 17 bis 23 wird der Auftreffpunkt des Abbildungsstrahls (Messlichtfleck) so eingestellt, dass er dem Auftreffpunkt des Bearbeitungsstrahls und damit der ermittelten Position der Dampfkapillare um etwa 25 – 75 µm nacheilt. Damit wird der Messlichtfleck entsprechend M1.6 in die ermittelte Position der Dampfkapillare bewegt.

bb) Die Patentabteilung führt in ihrem Beschluss weiterhin aus, die E6 offenbare zwar die Erfassung von zweidimensionalen Oberflächenstrukturen, wie z.B. ein Oberflächenprofil (S. 10, Z. 9f: „Keyhole surface shape“), und zeige auch entsprechende Messungen von längs und quer zu Schweißrichtung über die Dampfkapillare 30 geführten Messlichtstrahlen 20 in den Fig. 11 und 12, welche in zwei verschiedenen Ausführungsbeispielen beschrieben sind (S. 38, Z. 30 – S. 39, Z. 33: „Working Example –Third Experiment“ sowie S. 40, Z. 1 – 15: „Working Example –Fourth Experiment“), jedoch sei nicht offenbart, dass diese Messungen entsprechend dem Merkmal M1.4* dadurch erhalten würden, dass der Messlichtstrahl 20 so geführt wurde, dass der korrespondierende Messlichtfleck auf der Oberfläche des Werkstücks 12, 14 „zwei sich schneidende lineare Bahnen“ beschreibt.

Die Beschwerdeführerin vertritt dagegen die Auffassung, dass auch das dem Merkmal 1.4* hinzugefügte Merkmal, wonach die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks durch eine Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen geführt wird, schon in der E6 neuheitsschädlich vorweggenommen wird bzw. sich zumindest aus der E6 naheliegend ergibt.

Im Gegensatz zur Auffassung der Patentabteilung vermag der Senat diesbezüglich dem Vortrag der Einsprechenden zu folgen. Die E6 offenbart zweifellos Messungen längs und quer zur Arbeitsrichtung des Lasers zum Vermessen der Länge und Breite eines Keyholes. In den Figuren 11 und 12 und der zugehörigen Beschreibung der dritten und vierten Versuche der Ausführungsbeispiele (E6, S. 38 - 40, „Working Example - Third and Fourth Experiment“) wird die Vermessung der Dampfkapillare (Keyhole) entlang geradliniger Bahnen bereits gezeigt. Für den Fachmann ergibt sich daraus zwingend, dass sich die linearen Bahnen des Messlichtstrahls dabei schneiden müssen, damit die Länge und die Breite eines Keyholes überhaupt bestimmt werden können. Mit einer quer zum Laser verlaufenden Messbahn, die in Bewegungsrichtung vor oder hinter der Messbahn verläuft, mit der die Länge des Keyholes bestimmt wird, kann die Breite des gleichen Keyholes nicht bestimmt werden.

Entsprechend Seite 6, Zeilen 14 bis 30 kann das in der E6 offenbarte Messverfahren sowohl mit einer Mehrzahl von Messstrahlen als auch nur mit einem Messstrahl ausgeführt werden. Für den Fall der Messung mit nur einem Strahl, der bewegt wird und dessen Winkel geändert wird („…one or more beams that are moved and whose angles are changed,….“) ergibt sich für den Fachmann zwangsläufig eine Messung, bei der die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks durch eine Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu über das Keyhole bzw. die Dampfkapillare geführt wird.

Damit wird das Merkmal 1.4* für den Fachmann in der E6 implizit offenbart oder zumindest nahegelegt. Der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 geht daher für den Fachmann aus der E6 zumindest in naheliegender Weise hervor. Infolgedessen war das Patent im vollen Umfang zu widerrufen.

III.

Rechtsmittelbelehrung

Gegen diesen Beschluss steht den am Beschwerdeverfahren Beteiligten das Rechtsmittel der Rechtsbeschwerde zu. Da der Senat die Rechtsbeschwerde nicht zugelassen hat, ist sie nur statthaft, wenn gerügt wird, dass 1. das beschließende Gericht nicht vorschriftsmäßig besetzt war, 2. bei dem Beschluss ein Richter mitgewirkt hat, der von der Ausübung des Richteramtes kraft Gesetzes ausgeschlossen oder wegen Besorgnis der Befangenheit mit Erfolg abgelehnt war, 3. einem Beteiligten das rechtliche Gehör versagt war, 4. ein Beteiligter im Verfahren nicht nach Vorschrift des Gesetzes vertreten war, sofern er nicht der Führung des Verfahrens ausdrücklich oder stillschweigend zugestimmt hat, 5. der Beschluss aufgrund einer mündlichen Verhandlung ergangen ist, bei der die Vorschriften über die Öffentlichkeit des Verfahrens verletzt worden sind, oder 6. der Beschluss nicht mit Gründen versehen ist.

Die Rechtsbeschwerde ist innerhalb eines Monats nach Zustellung des Beschlusses beim Bundesgerichtshof, Herrenstr. 45 a, 76133 Karlsruhe, durch eine beim Bundesgerichtshof zugelassene Rechtsanwältin als Bevollmächtigte oder einen beim Bundesgerichtshof zugelassenen Rechtsanwalt als Bevollmächtigten einzulegen. Otten-Dünnweber Brunn Poeppel Huber