Beschwerdekammern des Europäischen Patentamts Entscheidung vom 18.10.2018 – T 1663/14

Beschwerde-Aktenzeichen: T 1663/14 - 3.4.02

E N T S C H E I D U N G

Technischen Beschwerdekammer 3.4.02 vom 18. Oktober 2018 der Beschwerdeführer:

(Einsprechender) Leica Geosystems AG Heinrich-Wild-Strasse 201 9435 Heerbrugg (CH) Vertreter:

Kaminski Harmann Patentanwälte AG Landstrasse 124 9490 Vaduz (LI) Beschwerdegegner:

Trimble Jena GmbH Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE) (Patentinhaber) Vertreter:

Diehl & Partner GbR Patentanwälte Erika-Mann-Straße 9 80636 München (DE) Angefochtene Entscheidung:

Zusammensetzung der Kammer:

Vorsitzender Mitglieder:

R. Bekkering A. Hornung B. Müller Zwischenentscheidung der Einspruchsabteilung des Europäischen Patentamts über die Aufrechterhaltung des europäischen Patents Nr. 1475607 in geändertem Umfang, zur Post gegeben am 21. Mai 2014.

Sachverhalt und Anträge

I. Die Einsprechende hat gegen die Zwischenentscheidung der Einspruchsabteilung, das Patent Nr. 1475607 in geändertem Umfang aufrechtzuerhalten, Beschwerde eingelegt.

II. Mit dem Einspruch war das gesamte Patent im Hinblick auf Artikel 100(a) EPÜ in Verbindung mit den Artikeln 52(1), 54(1) und 56 EPÜ, Artikel 100(b) EPÜ in Verbindung mit Artikel 83 EPÜ, sowie Artikel 100(c) EPÜ in Verbindung mit 123(2) EPÜ angegriffen worden.

III. Die Einspruchsabteilung Berücksichtigung der Einspruchsverfahren war der von Auffassung, der vorgenommenen dass unter Patentinhaberin Änderungen im gemäß Hauptantrag das europäische Patent und die Erfindung, die es zum Gegenstand hat, den Erfordernissen des EPÜ genügten.

IV. In einer Mitteilung gemäß Artikel 15(1) VOBK, die als Anlage einer Ladung zur mündlichen teilte die Kammer den Verhandlung Beteiligten ihre beigefügt war, vorläufige und unverbindliche Meinung zu bestimmten, wesentlichen Aspekten mit.

V. Die mündliche Verhandlung vor der Beschwerdekammer fand am 18. Oktober 2018 statt.

VI. Die Einsprechende (Beschwerdeführerin) beantragte die Aufhebung der angefochtenen Entscheidung und den Widerruf des Streitpatents.

VII. Die Patentinhaberin Aufhebung der (Beschwerdegegnerin) angefochtenen beantragte Entscheidung und die die Aufrechterhaltung des Patents in geändertem Umfang mit den Ansprüchen gemäß Hauptantrag oder den Hilfsanträgen 1 bis 16, eingereicht mit Schreiben vom 17. April 2015, jeweils in der Reinschrift.

VIII. Der Wortlaut des Verfahrensanspruchs lautet (die aus der angefochtenen

1 gemäß Hauptantrag Entscheidung bekannte Nummerierung 1A bis 1K der Merkmale des Anspruchs 1 des damaligen Hauptantrags wird übernommen und dem eigentlichen Wortlaut der jeweiligen Merkmale des Anspruchs 1 vorangestellt):

"(1A) Verfahren Position eines Aufhaltepunkt zur an P Bestimmung einem im der räumlichen Lage und Zielort gelegenen Meß- oder Reflektor (3) positionierten, mit einem versehenen Reflektorstabes (1) (1B) mit Hilfe eines von einer Lichtquelle einer Basisstation (6) zu dem Reflektor (3) ausgesendeten Lichtoder Zielstrahls ZS, - (1C) wobei der Reflektor (3) und ein mit diesem in einer festen Beziehung stehender, erster Positionssensor (5) ein erstes Koordinatensystem definiert, - (1D) wobei die Richtung des Lichtstrahls zum Reflektor (3) in einem zweiten Koordinatensystem mit Hilfe des Horizontalund Vertikalwinkels (Hz; V) der Zielachse (7) der den Lichtstrahl aussendenden Basisstation (6) und die Distanz D von der Basisstation (6) zum Reflektor (3) von der Basisstation (6) aus gemessen wird; - (1E) und wobei mit einem zweiten Positionssensor (9), der in Zielrichtung der Zielachse (7) der Basisstation (6) angeordnet ist und dessen räumliche Lage und Position zum zweiten Koordinatensystem bekannt ist, die Lage und Orientierung des Reflektorstabes (1) erfaßt wird, gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:

- (1F) Erzeugung von Meßdaten im ersten Koordinatensystem zur Bestimmung der räumlichen Orientierung des Reflektors (3) und damit des Reflektorstabes (1) zum von der Basisstation (6) ausgesendeten Lichtstrahl mittels des ersten Positionssensors (5), - (1G) Abbildung des Reflektorstabes (1) zusammen mit dem Reflektor (3) durch eine Abbildungsoptik der Basisstation (6) auf den in der Basisstation (6) angeordneten, zweiten Positionssensor (9), - (1H) Bestimmung der Lage und der Position des Reflektors (3) im zweiten Koordinatensystem aus dem gemessenen Horizontal- und Vertikalwinkel (Hz; V) und der Distanz D von der Basisstation (6) zum Reflektor (3), - (1I) Bestimmung Orientierung des von Rotationsparametern ersten der Koordinatensystems räumlichen gegenüber dem zweiten Koordinatensystem mittels der mit dem ersten und zweiten Positionssensor (5; 9) erzeugten Meßdaten, - (1J) Bestimmung der Lage und der Position des am Meßpunkt oder Aufhaltepunkt P positionierten Reflektorstabes (1) im zweiten Koordinatensystem mittels der Lage und der Position des Reflektors (3) im zweiten Koordinatensystem Rotationsparameter der räumlichen und der Orientierung des ersten Koordinatensystems gegenüber dem zweiten Koordinatensystem; und - (1K) Bestimmung von Koordinaten eines Endes (4) des Reflektorstabes (1) im zweiten Koordinatensystem, abhängig von der bestimmten (1), wobei das Lage und Position des Reflektorstabes Ende (4) am Mess- oder Aufhaltepunkt P aufgelegt ist."

IX. Der Wortlaut des unabhängigen Vorrichtungsanspruchs 3 gemäß Hauptantrag lautet (die aus der angefochtenen Entscheidung bekannte Nummerierung 3A bis 3J der Merkmale des Anspruchs 3 des damaligen eigentlichen Hauptantrags Wortlaut der wird übernommen jeweiligen und dem Merkmalen des vorliegenden Anspruchs 1 vorangestellt):

"(3A) Anordnung Position eines zur an Bestimmung einem im der räumlichen Lage und Zielort gelegenen Meß- oder Aufhaltepunkt P positionierten, mit einem fest angeordneten Reflektor (3) versehenen Reflektorstabes (1), umfassend - (3B) eine Basisstation (6) - (3C) mit einer, einen Licht- oder Zielstrahl ZS in einer Zielachse (7) zu einem Zielort aussendenden Lichtquelle, (3D) - mit Erzeugung einem zweiten von Meßwerten charakterisierenden Zielrichtung der Positionssensor zweiten Zielachse und der zur Koordinaten Meßdaten, (7) (9) welcher in Basisstation (6) angeordnet ist, - (3E) mit einer abbildenden Optik zur Abbildung des Reflektorstabes (1) mit dem Reflektor (3) auf den Vertikalwinkel (V) zweiten Positionssensor (9), - (3F) mit Horizontal- (Hz) und messenden, ersten Meßmitteln zur Bestimmung der Richtung des Licht- oder Zielstrahls ZS, die ein zweites Koordinatensystem definieren, - (3G) und zweite Meßmittel zur Messung der Distanz D von der Basisstation (6) zum Reflektor (3), - (3H) ein, ein erstes Koordinatensystem definierender, erster Positionssensor (5) zur Erzeugung von die Lage und Position des Reflektors charakterisierenden, ersten (3) zum Meßdaten, Zielstrahl welcher in ZS einer definierten Position und Orientierung fest mit dem Reflektor (3) verbunden ist, - (3I) eine Auswerteeinheit (12) zur Ermittlung und Berechnung der räumlichen Lage und Position des am Meß- oder Aufhaltepunkt P Koordinaten des positionierten zweiten Reflektorstabes Koordinatensystems, (1) in wobei die Auswerteeinheit (12), zur Bestimmung von Rotationsparametern der räumlichen Orientierung des ersten Koordinatensystems gegenüber dem zweiten Koordinatensystem, datenmäßig mit dem ersten und dem zweiten Positionssensor (5, 9) sowie, zur Bestimmung der Lage und der Position des Reflektors (3) im zweiten Koordinatensystem, mit den ersten und den zweiten Meßmitteln, zur Messung des Horizontal-(Hz) und des Vertikalwinkels (V) und der Distanz (D), verbunden ist; - (3J) wobei Koordinaten die eines Auswerteeinheit (12) Endes Reflektorstabes (4) zweiten Koordinatensystem des zu bestimmen, konfiguriert ist (1) im abhängig von der bestimmten Lage und Position des Reflektorstabes (1), wobei das Ende (4) am Mess- oder Aufhaltepunkt P aufgelegt ist."

X. Der Wortlaut des unabhängigen Vorrichtungsanspruchs 1 gemäß Hilfsantrag 3 lautet (die aus der angefochtenen Entscheidung bekannte Nummerierung 3A bis 3I der Merkmale des Anspruchs 3 des Hauptantrags wird übernommen und dem eigentlichen Wortlaut der jeweiligen Merkmale des vorliegenden Anspruchs

1 vorangestellt; zusätzliche Merkmale wurden mit der der räumlichen Lage und Zielort gelegenen Meß- oder Bezeichnung 3J, 3K und 3L nummeriert):

"(3A) Anordnung Position eines zur an Bestimmung einem im Aufhaltepunkt P positionierten, mit einem fest angeordneten Reflektor (3) versehenen Reflektorstabes (1), umfassend - den Reflektorstab (1) und den Reflektor (3); - (3B) eine Basisstation (6) - (3C) mit einer, einen Licht- oder Zielstrahl ZS in einer Zielachse (7) zu einem Zielort aussendenden Lichtquelle, - (3D) mit Erzeugung einem zweiten von Meßwerten charakterisierenden Zielrichtung der Positionssensor zweiten Zielachse und Meßdaten, (7) der (9) zur Koordinaten welcher in Basisstation (6) angeordnet ist, - (3E) mit einer abbildenden Optik zur Abbildung des Reflektorstabes (1) mit dem Reflektor (3) auf den Vertikalwinkel (V) zweiten Positionssensor (9), - (3F) mit Horizontal- (Hz) und messenden, ersten Meßmitteln zur Bestimmung der Richtung des Licht- oder Zielstrahls ZS, die ein zweites Koordinatensystem definieren, - (3G) und zweite Meßmittel zur Messung der Distanz D von der Basisstation (6) zum Reflektor (3), - (3H) ein, ein erstes Koordinatensystem definierender, erster Positionssensor (5) zur Erzeugung von die Lage und Position des Reflektors charakterisierenden, ersten (3) zum Meßdaten, Zielstrahl welcher in ZS einer definierten Position und Orientierung fest mit dem Reflektor (3) verbunden ist, (3I) - eine Auswerteeinheit (12) zur Ermittlung und Berechnung der räumlichen Lage und Position des am Meß- oder Aufhaltepunkt P Koordinaten des positionierten zweiten Reflektorstabes Koordinatensystems, (1) in wobei die Auswerteeinheit (12), zur Bestimmung von Rotationsparametern der räumlichen Orientierung des ersten Koordinatensystems gegenüber dem zweiten Koordinatensystem, datenmäßig mit dem ersten und dem zweiten Positionssensor (5, 9) sowie, zur Bestimmung der Lage und der Position des Reflektors (3) im zweiten Koordinatensystem, mit den ersten und den zweiten Meßmitteln, zur Messung des Horizontal-(Hz) und des Vertikalwinkels (V) und der Distanz (D), verbunden ist; wobei die Auswerteeinheit (12) konfiguriert ist:

- (3J) die Rotationsparameter der räumlichen Orientierung des ersten Koordinatensystems gegenüber dem zweiten Koordinatensystem zu bestimmen mittels der mit dem ersten und zweiten Positionssensor (5; 9) erzeugten Meßdaten; - (3K) die Lage Aufhaltepunkt P und die Position des positionierten am Meßpunkt Reflektorstabes oder (1) im zweiten Koordinatensystem zu bestimmen mittels der Lage und der Position Koordinatensystem, zweiten des Reflektors wobei die Lage Koordinatensystem (3) im des Reflektors bestimmt wird zweiten (3) mittels im der Rotationsparameter der räumlichen Orientierung des ersten Koordinatensystems gegenüber dem zweiten Koordinatensystem; und - (3L) Koordinaten eines Endes (4) des Reflektorstabes (1) im zweiten Koordinatensystem zu bestimmen, abhängig von der bestimmten Lage und Position des Reflektorstabes (1), wobei das Ende (4) am Mess- oder Aufhaltepunkt P aufgelegt ist."

XI. Für den Wortlaut der Ansprüche der Hilfsanträge 1, 2 und 4 bis 16 wird auf den Anhang Patentinhaberin, der Beschwerdeerwiderung eingereicht mit Schreiben der vom 17. April 2015, Bezug genommen.

1. Hauptantrag 1.1 Zulassung in das Beschwerdeverfahren - Regel 80 EPÜ 1.1.1 Der vorliegende, unabhängige Vorrichtungsanspruch 3 unterscheidet sich von dem von der Einspruchsabteilung in der angefochtenen Entscheidung als gewährbar angesehenen Vorrichtungsanspruch 3, durch (i) das Streichen der Wörter "ferner dazu" und (ii) das Hinzufügen der Wörter "im zweiten Koordinatensystem" im Merkmal (3J).

1.1.2 Die Einsprechende beantragte, mit Verweis auf Regel 80 EPÜ, den Hauptantrag nicht in das Beschwerdeverfahren zuzulassen, weil der Anspruchs Einspruchsabteilung 3 als im Vergleich gewährbar zu der angesehenen von der Fassung Änderungen beinhalte, die nicht durch einen Einspruchsgrund veranlasst seien.

1.1.3 Laut Patentinhaberin wird im Merkmal (3J) die Auswerteeinheit zum ersten Mal im Anspruch 3 konfiguriert. Durch das Streichen der Wörter "ferner dazu" im Satz "wobei die Auswerteeinheit ferner dazu konfiguriert ist" werde klar gestellt, dass keine vorherige Konfiguration der Auswerteeinheit gemäß Anspruch 3 stattgefunden habe. Da das gesamte Merkmal (3J) eine Änderung des erteilten darstellt, erneute, sei eine durch Klarheit Patents veranlasste Änderung des Merkmals (3J) gewährbar.

Das Hinzufügen der Wörter "im zweiten Koordinatensystem" stelle eine Einschränkung des Schutzumfangs des unabhängigen Anspruchs 3 auf ein bestimmtes Koordinatensystem dar. Daher sei auch diese Änderung durch einen Einspruchsgrund veranlasst.

1.1.4 Die Kammer bemerkt, dass die beiden Änderungen das Merkmal (3J), welches gewährbare an sich Änderung bereits des eine erteilten nach Regel Patents 80 EPÜ darstellt, betreffen. Daher steht die Regel 80 EPÜ der Zulassung der beiden Änderungen (i) und (ii) nicht im Wege.

Die Kammer sieht auch keinen Grund, den mit der Beschwerdeerwiderung eingereichten Hauptantrag nach Artikel 12(4) VOBK nicht zuzulassen. Die Einsprechende hat sich auf diese Bestimmung auch nicht berufen.

1.2 Zulassung in das Beschwerdeverfahren - Verschlechterungsverbot 1.2.1 Die Einsprechende beantragte, den Hauptantrag nicht in das Beschwerdeverfahren zuzulassen, weil die Patentinhaberin keine Beschwerde eingelegt habe und darauf beschränkt sei, das Patent in der der Zwischenentscheidung zugrunde liegenden Fassung zu verteidigen. Aufgrund der Änderungen (i) und (ii) des Merkmals (3J) sei der Schutzumfang des Anspruchs 3 vergrößert dadurch eine worden. Die Patentinhaberin bessere könne Stellung im Beschwerdeverfahren Die Einsprechende argumentierte, dass die Auswerteeinheit erlangen.

gemäß des Anspruchs 3 der Zwischenentscheidung durch die Merkmale (3I) und (3J) in zwei Schritten konfiguriert werde. Durch das Streichen der Wörter "ferner dazu" werde die Auswerteeinheit gemäß des vorliegenden Anspruchs 3 in einem einzigen Schritt durch die Merkmale (3I) und (3J) konfiguriert. Dies stelle eine Verallgemeinerung dar, die den Schutzumfang des Anspruchs 3 vergrößere.

1.2.2 Die Kammer kann dieser Argumentation nicht folgen. In beiden Fassungen des Vorrichtungsanspruchs 3 wird eine Auswerteeinheit definiert, die die Merkmale (3I) und (3J) aufweist. Ob das Merkmal (3J) zu Merkmal (3I) "ferner dazu" kommt oder ob beide Merkmale gleichzeitig in der Vorrichtung vorhanden sind, ändert den Schutzumfang des dem des Vorrichtungsanspruchs nicht.

Das Verschlechterungsverbot steht Zulassen Hauptantrags in das Beschwerdeverfahren daher nicht im Wege.

1.3 Nach alledem wird der Hauptantrag in das Beschwerdeverfahren zugelassen.

1.4 Ausreichende Offenbarung Das Patent offenbart die Erfindung gemäß Anspruch 1 nicht so deutlich und vollständig, dass ein Fachmann sie ausführen kann (Artikel 83 und 100 b) EPÜ 1973).

1.4.1 Die Kammer legt den im Patent verwendeten Ausdruck "Lage und Position" im Sinne von "Orientierung und Position" aus, d.h. die "Lage" ist nur durch rotatorische Freiheitsgrade, und die "Position" ist nur durch translatorische Freiheitsgrade definiert. Diese schriftlichen Auslegung Aussage Beschwerdeerwiderung, steht der Punkt im Einklang Patentinhaberin IV.2.1b), sowie mit der in ihrer mit deren mündlicher Aussage am Vormittag der mündlichen Verhandlung vor der Beschwerdekammer.

Gemäß dem Verfahrensschritt des Merkmals (1H) des Anspruchs 1 sollen die Lage und die Position des Reflektors im zweiten Koordinatensystem Vertikalwinkel aus (Hz, dem V) gemessenen und der Horizontal- Distanz D von und der Basisstation zum Reflektor bestimmt werden.

Aus der Patentbeschreibung erfährt der Fachmann, dass die Basisstation (6) beispielsweise als Theodolit mit Entfernungsmesser realisiert ist (Spalte 7, Zeile 3), d.h. die Basisstation (6) besitzt ein Horizontal- und ein Vertikalwinkelmesssystem (10, 11) zur Messung der Winkel Hz und V, sowie einen Distanzmesser zur Messung der Distanz D (Spalte 7, Zeilen 37 bis 45; Figur 1). Diese Messgeräte befinden sich an der Basisstation (6), welche "ein räumlich feststehendes, übergeordnetes zweites Koordinatensystem mit den Koordinatenachsen X, Y und Z" bildet (Spalte 6, Zeilen 6 bis 12). Anhand dieser Informationen ist es für den Fachmann nachvollziehbar, dass die Messung der Parameter Hz, V und D die Bestimmung der Position des Reflektors in allen drei translatorischen Freiheitsgraden ermöglicht.

Die Bestimmung der Lage des Reflektors anhand der drei Parameter Hz, V und D ist jedoch technisch nicht möglich. Dies wurde von der Patentinhaberin auch nicht bestritten. Auch aus der Beschreibung und der Figur des Patents ergeben sich für den Fachmann keine zusätzlichen Erkenntnisse, wie die rotatorische Lage des Reflektors ausschließlich anhand der Parameter Hz, V und D zu bestimmen sei. Die Beschreibung des Patents bestätigt zwar die Aussage, dass die Lage und die Position des Reflektors aus Hz, V und D bestimmt werden (Spalte 4, Zeilen 15 bis 18; Spalte 8, Zeilen 51 bis 55), gibt jedoch keine Erklärung, wie dies zu erreichen sei. Es folgt, dass die in Anspruch 1 definierte Erfindung auch in Zusammenschau mit der Patentbeschreibung und der Figur 1 für den Fachmann nicht ausführbar ist.

1.4.2 Die Patentinhaberin trug folgende Gegenargumente vor, um zu belegen, dass die Erfindung ausreichend offenbart sei:

a) Der Fachmann verstehe, dass, trotz des einleitenden Wortes "aus", die Aufzählung der Parameter Hz, V und D im Merkmal (1H) nicht abschließend sei. Weitere Messungen seien notwendig, insbesondere Messungen anhand der ersten und zweiten Positionssensoren (5, 9). Da der Fachmann das Merkmal (1H) Sinn gebend auslege, sei das Merkmal (1H) für den Fachmann technisch nicht sinnlos. Die Kammer kann dieses Argument nicht nachvollziehen. Der Wortlaut des Merkmals (1H) ist deutlich und lässt keinen anderen Schluss zu, als dass die Lage des Reflektors aus den Parametern Hz, V und D bestimmt wird. Die Patentbeschreibung, die das Merkmal (1H) inhaltsgleich wiedergibt, gibt ebenfalls keinen Anlass, die technische Aussage des Merkmals (1H) in Zweifel zu ziehen.

Sollte Nichtvorhandenseins Hinweises der im Bedenken Fachmann Patent eines bezüglich trotz des entsprechenden der technischen Nichtausführbarkeit des Merkmals (1H) hegen, würde er vergeblich im Patent nach Informationen suchen, wie die Lage des Reflektors anders zu bestimmen sei.

b) Im weiteren Verlauf der Debatte erklärte die Patentinhaberin, dass der Fachmann den Begriff "Lage und Position des Reflektors" im Merkmal (1H) als Positionskoordinaten des Reflektors verstehe. Im Merkmal (1J) würde der Fachmann den Begriff "Lage und Position des Reflektors" im Sinne von Orientierung und Position des Reflektors Fähigkeit, den verstehen.

Der Begriff "Lage Fachmann und habe die Position des Reflektors" sinnvoll und abhängig vom jeweiligen Kontext auszulegen. Ein Hinweis, den Begriff "Lage und Position" nicht wortwörtlich auszulegen, sondern dem Kontext anzupassen, befände sich im Begriff "Lage und Position des Meßpunktes", Spalte 4, Zeilen 24 und 25. Da es unbestritten sei, dass ein Messpunkt keine rotatorischen Freiheitsgrade habe und daher nicht anhand einer Lage sondern nur verstünde anhand der einer Fachmann, Position dass der definierbar Begriff "Lage sei, und Position" sinnvoll und kontextspezifisch auszulegen sei. Dieses Argument überzeugt die Kammer nicht, weil identische Begriffe in einer Patentschrift grundsätzlich identisch auszulegen sind.

Eine kontextspezifische Auslegung identischer Begriffe im Anspruch übersteigt die Fähigkeit des Fachmanns, insbesondere wenn, wie im vorliegendem Fall, Rechtfertigungen das Patent offenbart, keine Hinweise identische oder Begriffe unterschiedlich auszulegen. Das Vorhandensein im Patent des unstrittig fehlerhaften Begriffs "Lage und Position des Meßpunktes" ist nicht ohne weitere ausdrückliche Hinweise dazu geeignet, dem Fachmann zu offenbaren, dass der Begriff "Lage und Position des Reflektors" ebenfalls fehlerhaft sei. Dabei blieben in der Debatte die Fragen, was die Lage des Reflektors bedeute und wie sie zu bestimmen sei, unbeantwortet.

c) Die von der Einsprechenden erhobenen Einwände gegen das sich bereits im erteilten Patentanspruch 1 befindliche Merkmal (1H) stellten Klarheitseinwände nach Artikel 84 EPÜ 1973 dar. Gemäß gängiger Rechtsprechung der Beschwerdekammern dürften keine Klarheitseinwände gegen erteilte Ansprüche erhoben unklaren Ansprüchen werden.

müsste Bei die eventuell Erfindung in Zusammenschau mit der Beschreibung und den Figuren des Patents sinnvoll gedeutet werden. Anhand der Patentbeschreibung, [0015] und [0031] bis [0037], und der Figur 1, verstünde der Fachmann, unabhängig von eventuellen Unklarheiten im Anspruch 1, wie die Lage des Reflektors zu bestimmen sei, nämlich insbesondere durch Benutzung der Messungen der beiden Positionssensoren. Wie oben in Punkt 1.4.1 erläutert, ist der Gegenstand des Anspruchs technisch 1 nicht nicht unklar realisierbar.

definiert, Auch im sondern Lichte der Beschreibung und der Figur 1 des Patents ist für den Fachmann nicht ersichtlich, auf welche Art die rotatorischen Freiheitsgrade des Reflektors, d.h. dessen Lage, bestimmt werden. Der pauschale Hinweis der Patentinhaberin auf die Beschreibung, [0015] und [0031] bis [0037], und auf die Figur 1 des Patents genügen dem Fachmann nicht, unzumutbaren die Aufwand Lage zu des Reflektors bestimmen.

ohne Insbesondere offenbart das Patent nicht, auf welche Art die Lage des Reflektors anhand der beiden Positionssensoren bestimmt werden soll.

1.4.3 Die Kammer kommt zum Schluss, dass auch im Lichte der Beschreibung und der Figur des Patents die Bestimmung der Lage des Reflektors gemäß dem Merkmal (1H) des Anspruchs 1 technisch nicht realisierbar ist. Der Versuch, nach Umdeutung der Begriffe "Lage und Position des Reflektors", die Erfindung mit Hilfe der Beschreibung und der Figur des Patents Position zu realisieren, des insbesondere Reflektors anhand die aller Lage und die offenbarten translatorischen und rotatorischen Messwerte zu bestimmen, ist mit einem unzumutbaren Aufwand für den Fachmann verbunden.

Daher ist die Erfindung gemäß Anspruch 1 nicht so deutlich und vollständig im Patent offenbart, dass ein Fachmann sie ausführen kann (Artikel 83 und 100 b) EPÜ 1973).

2. Hilfsanträge 1, 2, 4 bis 6, 8 bis 10, 12 bis 14 und 16 Laut der Einsprechenden ist die im Anspruch 1 der Hilfsanträge 1, 2, 4 bis 6, 8 bis 10, 12 bis 14 und 16 definierte Erfindung aus den gleichen Gründen wie die Erfindung des Hauptantrags nicht ausführbar. Anspruch 1 der jeweiligen Hilfsanträge 1, 2, 4 bis 6, 8 bis 10, 12 bis 14 und 16 beinhalte das gleiche Merkmal (1H) wie Anspruch 1 des Hauptantrags, und die hinzugekommenen Änderungen seien nicht geeignet, den Einwand der Nichtausführbarkeit zu beseitigen. Die Patentinhaberin enthielt sich eines Kommentars zu dieser Thematik.

Die Kammer folgt der Meinung der Einsprechenden und kommt zum Schluss, dass die Erfindung gemäß Anspruch 1 der jeweiligen Hilfsanträge 1, 2, 4 bis 6, 8 bis 10, 12 bis 14 und 16 nicht so deutlich und vollständig im Patent offenbart ist, dass ein Fachmann sie ausführen kann (Artikel 83 und 100 b) EPÜ 1973).

3. Hilfsantrag 3 Der Gegenstand des Anspruchs 1 geht über den Inhalt der Anmeldung in der ursprünglich eingereichten Fassung hinaus und verletzt damit das Erfordernis des Artikels 123(2) EPÜ. Die Gründe sind wie folgt:

3.1 Gemäß dem Merkmal (3K) des Anspruchs 1 ist die Auswerteeinheit konfiguriert, um "die Lage und die Position des am Messpunkt Reflektorstabes oder (1) Aufhaltepunkt im zweiten P positionierten Koordinatensystem zu bestimmen mittels der Lage und der Position des Reflektors (3) im zweiten Koordinatensystem, wobei die Lage des Reflektors (3) im zweiten Koordinatensystem bestimmt wird mittels der Rotationsparameter der räumlichen Orientierung des ersten Koordinatensystems gegenüber dem zweiten Koordinatensystem".

3.2 Laut Argumentation der Patentinhaberin während der mündlichen Verhandlung ist das Merkmal (3K) des vorliegenden Anspruchs 1 im Merkmal 1J des Anspruchs 1, auf Seite 10, Zeilen 11 bis 19 und auf Seite 6, Zeilen 7 ursprünglich (siehe eingereichten auch bis 13 der Anmeldungsunterlagen Beschwerdeerwiderung, Anhang zu finden "Ansprüche Änderungsversion (Hilfsantrag 3)", Fußnote auf Seite 2).

3.3 Die Kammer kann dieser Aussage nicht folgen. Insbesondere ist das zweiten Merkmal "wobei die Koordinatensystem Lage des bestimmt Rotationsparameter der räumlichen Reflektors wird (3) mittels im der Orientierung des ersten Koordinatensystems gegenüber dem zweiten Koordinatensystem" in keiner dieser Textstellen zu finden:

- Angebliche Basis im Merkmal 1J:

Gemäß Anspruch 1 wie ursprünglich eingereicht umfasst das Verfahren den Verfahrensschritt "Bestimmung der Lage und der Position des Meßpunktes oder Aufhaltepunktes P im zweiten Koordinatensystem mittels der Lage und der Position des Reflektors (3) und der Rotationsparameter der räumlichen Koordinatensystems Orientierung gegenüber des dem ersten zweiten Koordinatensystem". Der ursprüngliche Anspruch 1 gibt jedoch keine Auskunft über die Art, wie die Lage des Reflektors (3) ermittelt wird.

- Angebliche Basis auf Seite 10, Zeilen 11 bis 19:

Gemäß dieser Position Textstelle werden "aus Reflektors 3, gemessen des Koordinatensystem der Basisstation Lage im 6 mittels der V sowie der die und Vertikalwinkel Distanz und den Rotationsparametern (...) und Z im Koordinaten X; Y des und Punktes und zweiten HorizontalD, Hz der P zweiten Koordinatensystem der Basisstation 6 berechnet". Dies bedeutet, dass die Rotationsparameter in die Berechnung der Koordinaten des Punktes P einfließen, jedoch nicht, wie im vorliegendem Merkmal (3K) definiert, dass die Rotationsparameter des zur Bestimmung der Lage Reflektors benutzt werden.

- Angebliche Basis auf Seite 6, Zeilen 7 bis 13:

Diese Textstelle offenbart eine Auswerteeinheit zur Bestimmung der Lage und Position des Reflektorstabes, sowie dessen Messmitteln. Verbindungen Die Art der mit den Bestimmung verschiedenen der Lage des Reflektors wird nicht erwähnt. Keine der von der Patentinhaberin angegebenen Textstellen offenbart die in dem Merkmal (3K) des vorliegenden Anspruchs 1 definierte Art der Bestimmung der Lage des Reflektors. Die Kammer sieht keine sonstigen Textstellen in der ursprünglichen Beschreibung oder Hinweise in der Figur, die eine ausreichende Basis für das geänderte Merkmal (3K) darstellen.

3.4 Es folgt, dass das Merkmal (3K) eine Änderung darstellt, die über den Inhalt hinausgeht. der ursprünglich eingereichten Anmeldung 4. Hilfsanträge 7, 11 und 15 Laut der Einsprechenden beinhaltet Anspruch 1 der Hilfsanträge 7, 11 und 15 dasselbe Merkmal (3K) wie Anspruch 1 des Hilfsantrags 3 und verletzt daher das Erfordernis des Artikels 123(2) EPÜ.

Die Patentinhaberin enthielt sich eines Kommentars zu dieser Thematik. Die Kammer folgt der Meinung der Einsprechenden und kommt zum Schluss, dass der Anspruch 1 gemäß den Hilfsanträgen 7, 11 und 15 Änderungen beinhaltet, die über den Inhalt der Anmeldung in der ursprünglich eingereichten Fassung hinausgehen (Artikel 123(2) EPÜ).

5. Aus diesen Gründen kommt die Kammer zum Schluss, dass das Patent widerrufen werden muss.

Entscheidungsformel

Aus diesen Gründen wird entschieden:

1. Die angefochtene Entscheidung wird aufgehoben.

2. Das Patent wird widerrufen. Die Geschäftsstellenbeamtin:

Der Vorsitzende:

M. Kiehl R. Bekkering