(Fundstelle: BGBl. I 2010, 1525 - 1526)
Analysemethoden für die chemische Überwachung der in dieser Verordnung genannten Parameter und Schwellenwerte müssen die folgenden Kriterien erfüllen:
Die Messunsicherheit ist ein nicht negativer Parameter, der die Streuung derjenigen Werte beschreibt, die der Messgröße auf der Basis der verwendeten Informationen zugeordnet werden. Die Messunsicherheit beinhaltet die Genauigkeit des Verfahrens und legt den Bereich fest, innerhalb dessen der „wahre Wert“ der Analyseprobe mit einer bestimmten, vorgegebenen Wahrscheinlichkeit zu erwarten ist.
Die Bestimmungsgrenze ist ein festgelegtes Vielfaches der Nachweisgrenze. Sie entspricht der Konzentration eines Stoffes, die mit einem akzeptablen Maß an Genauigkeit bestimmt werden kann. Erst oberhalb der Bestimmungsgrenze werden quantitative Analyseergebnisse angegeben. Dabei ist die Nachweisgrenze das Messsignal oder der Konzentrationswert, ab dem man bei einem festgelegten Vertrauensniveau aussagen kann, dass sich eine Probe von einer Leerprobe unterscheidet, die den zu bestimmenden Analyten nicht enthält. Die Bestimmungsgrenze kann nach der Vornorm ISO/TS 13530[2] ermittelt und verifiziert werden.
Bei der Analyse operational über ihre Analysevorschrift definierter Parameter gelten die in den Analysemethoden festgelegten Anforderungen.
Die Laboratorien, die biologische Qualitätskomponenten oder chemische oder chemisch-physikalische Qualitätskomponenten überwachen, haben ein Qualitätsmanagementsystem im Einklang mit der Norm DIN EN ISO/IEC 17025[3] anzuwenden. Sie haben die Kompetenz für die Durchführung der erforderlichen Analysen nachzuweisen durch
Ein Schwellenwert gilt an einer Messstelle als eingehalten, wenn das arithmetische Mittel der im Zeitraum von einem Jahr gemessenen Konzentrationen an dieser Messstelle kleiner oder gleich dem Schwellenwert ist.
1 Ausgabe August 2005, erschienen im Beuth-Verlag GmbH, Berlin, und beim Deutschen Patentamt in München archivmäßig gesichert niedergelegt.
2 Ausgabe Vornorm März 2009, erschienen im Beuth-Verlag GmbH, Berlin, und beim Deutschen Patentamt in München archivmäßig gesichert niedergelegt.
3 Ausgabe August 2005, erschienen im Beuth-Verlag GmbH, Berlin, und beim Deutschen Patentamt in München archivmäßig gesichert niedergelegt.
4 Ausgabe Mai 2010, erschienen im Beuth-Verlag GmbH, Berlin, und beim Deutschen Patentamt in München archivmäßig gesichert niedergelegt.